HD-SZT-2C/SZT-C四探針測試儀

技術參數: 1）． 測量范圍： 電阻率：10-5～105 Ω.cm 方塊電阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ 電阻：10-5～105 Ω； ·2）． 可測半導體材料尺寸 直徑：5mm-250mm 長度：任意（需要配筆試探頭） ·3）． 測量方法： 軸向、斷面均可

型號：HD-SZT-2C/SZT-C    訪問量：1815    廠商性質：經銷商